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掃描探針顯微鏡
- 更新日期:2024-11-11
- 訪問(wèn)次數(shù):3051?
掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描,通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下,掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式,可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動(dòng)。在懸臂震動(dòng)的狀態(tài)下懸臂接近樣品時(shí)振幅會(huì)發(fā)生變化。
SPM-9700 掃描探針顯微鏡 日本島津
探知未來(lái)
掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描,通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡(jiǎn)單的新一代。
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